通過電源產(chǎn)生足夠大的電流去測試大電流傳感器

(小到幾kA大到500kA)，不僅從成本上考慮不允許而且也不現(xiàn)實(shí)。因此, 通常的方法是采用較小功率電源，并且母排由多個(gè)迭片疊加迂回構(gòu)成，這樣用總的安培匝數(shù)來模擬母排電流。雖然這種方法看上去很理想，但還是有許多缺點(diǎn)：

在大多數(shù)情況下，層迭的母排形成一個(gè)或兩個(gè)分開的多匝繞組(相當(dāng)于一個(gè)或二個(gè)大線圈)，這樣會構(gòu)成一個(gè)不平衡的磁場從而影響一些設(shè)備的校準(zhǔn)精度。理想情況下，母排繞組應(yīng)該圍繞直流傳感器對稱地布置,但這樣大多數(shù)廠商實(shí)際操作起來不現(xiàn)實(shí)，因?yàn)樗笠粋€(gè)很大空間和大量繞組，需要注意的是這種母排繞組形式與多匝法測試線圈類似但規(guī)模上更大一些。

母排必須有回路到電源，除非返回母排距離傳感器比較遠(yuǎn)或繞組尺寸很大，否則它會產(chǎn)生一個(gè)不平衡的外磁場對傳感器形成影響。通常情況下由于空間限制返回母排在大部分測試設(shè)施與傳感器距離較近。

在整流器的輸出端，母排的布置構(gòu)成一個(gè)低電感值回路，因此母排上的電流通常存在很大的紋波和諧波成份。一個(gè)電源在這種模式下很難長時(shí)間工作，其穩(wěn)定性也不能保證。

在許多情況下去改變母排的形狀以適應(yīng)不同形狀和尺寸的傳感器是很困難的且在一些情況下不可能實(shí)現(xiàn)。理想情況下，母排的形狀可以大體上與傳感器窗口形狀大小相匹配，并且母排要占據(jù)傳感器窗口一半以上的空間以保證提供最好的精度。

關(guān)鍵詞： 直流大電流傳感器測試方